آنالیز شیمیایی ( سنگ های اکتشافی ) XRF

آنالیز شیمیایی ( سنگ های اکتشافی ) XRF

آنالیز شیمیایی ( سنگ های اکتشافی )

خدمات آزمایشگاهی

آزمایشگاه سنگ شناسی

Comment                                   Philips Analytical X-Ray B.V.

Comment                                   PC-APD, Diffraction software

Measurement Date / Time          6/28/2014 14:44

Raw Data Origin                        PHILIPS-binary (scan) (.RD)

Scan Axis                                  Gonio

Start Position [°2Th.]                 4.0100

End Position [°2Th.]                  79.9900

Step Size [°2Th.]                        0.0200

Scan Step Time [s]                     0.5000

Scan Type                                  CONTINUOUS

Offset [°2Th.]                            0.0000

Divergence Slit Type                 Fixed

Divergence Slit Size [°]              1.0000

Specimen Length [mm]              10.00

Receiving Slit Size [mm]            0.1000

Measurement Temperature [°C] 0.00

Anode Material                          Cu

Generator Settings                      40 kV, 30 mA

Diffractometer Type                  PW3710

Diffractometer Number             1

Goniometer Radius [mm]          173.00

Dist. Focus-Diverg. Slit [mm]    91.00

Incident Beam Monochromator No

Spinning                                    No

X-ray Fluorescence Spectrometer

Philips PW 1480

XRF with 3 KW side

window X-ray tubes (Rh & Cr-Au);

Analysing Crystals- LiF200, LiF220, TLAP, PE, GE,

این محصول توسط شرکت آمتیس شرق ارائه میگردد