آنالیز شیمیایی ( سنگ های اکتشافی ) XRF

آنالیز شیمیایی ( سنگ های اکتشافی ) XRF آنالیز شیمیایی ( سنگ های اکتشافی ) خدمات آزمایشگاهی آزمایشگاه سنگ شناسی Comment Philips Analytical X-Ray B.V. Comment PC-APD, Diffraction software Measurement Date / Time 6/28/2014 14:44 Raw Data Origin PHILIPS-binary (scan) (.RD) Scan Axis Gonio Start Position [2Th.] 4.0100 End Position [2Th.] 79.9900 Step Size [2Th.] 0.0200 Scan Step Time [s] 0.5000 Scan Type CONTINUOUS Offset [2Th.] 0.0000 Divergence Slit Type Fixed Divergence Slit Size [] 1.0000 Specimen Length [mm] 10.00 Receiving Slit Size [mm] 0.1000 Measurement Temperature [C] 0.00 Anode Material Cu Generator Settings 40 kV, 30 mA Diffractometer Type PW3710 Diffractometer Number 1 Goniometer Radius [mm] 173.00 Dist. Focus-Diverg. Slit [mm] 91.00 Incident Beam Monochromator No Spinning No X-ray Fluorescence Spectrometer Philips PW 1480 XRF with 3 KW side window X-ray tubes (Rh Cr-Au); Analysing Crystals- LiF200, LiF220, TLAP, PE, GE, این محصول توسط شرکتآمتیس شرق ارائه میگردد